PCBA燒毀失效分析
摘要
某PCBA上的高壓工作模組在客戶應(yīng)用端出現(xiàn)燒毀失效現(xiàn)象,經(jīng)排查,造成該失效的直接原因為該模組中MOSFET的引腳直接存在錫渣短路,導(dǎo)致該高壓模組后續(xù)的燒毀失效。經(jīng)過一系列的測試分析,確認(rèn)最終導(dǎo)致錫渣殘留的原因為PCB板與助焊劑之間存在兼容性問題,導(dǎo)致在過波峰焊時,有錫渣殘留在引腳之間的阻焊膜上。
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圖1. PCBA板燒毀外觀圖 | 圖2. MOSFET引腳之間存在異物 |
關(guān)鍵詞
燒毀失效,錫渣殘留,兼容性
案例正文
1. 案例背景
某PCBA的高壓工作模組在客戶應(yīng)用端出現(xiàn)燒毀,在PCBA板組裝后增加清洗工藝,不良率有所下降,當(dāng)更換助焊劑后,失效現(xiàn)象不再發(fā)生。
2. 分析簡述
通過對失效樣品進行電路分析,發(fā)現(xiàn)導(dǎo)致該高壓工作模組燒毀的原因為MOSFET被擊穿,而與外觀檢查觀察到的MOSFET引腳之間存在異物相吻合。
圖3. 電源電氣原理圖
通過SEM+EDS對引腳間的異物進行外觀形貌觀察及成分分析,發(fā)現(xiàn)該異物主要為錫渣殘留,導(dǎo)致MOSFET在工作時被擊穿。
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圖4. 異物成分分析結(jié)果 |
為驗證波峰焊所使用助焊劑是否存在問題,對失效樣品進行表面離子殘留進行測試,發(fā)現(xiàn)板表面離子殘留符合標(biāo)準(zhǔn)要求。同時對助焊劑的表面絕緣電阻(SIR)進行測試,其結(jié)果也是符合標(biāo)準(zhǔn)要求。
圖5. 助焊劑SIR測試曲線
3. 結(jié)果與討論
由測試分析可知,導(dǎo)致該PCBA板高壓工作模組燒毀的直接原因是其MOSFET引腳之間存在錫渣殘留,結(jié)合案件的背景信息,當(dāng)增加組裝后清洗工藝及更換助焊劑后,不良率得到改善和杜絕,而通過一系列的驗證試驗,最初使用的助焊劑本身質(zhì)量不存在問題,導(dǎo)致錫渣殘留的原因應(yīng)為該款助焊劑與PCB板本身存在兼容性問題。
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