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形貌觀察與測(cè)量
錫須觀察與測(cè)量 | 電子顯微形貌觀察與測(cè)量 | 表面粗糙度分析 |
金屬間化合物觀察與測(cè)量 | 光學(xué)顯微形貌觀察與測(cè)量 |
形貌觀察與測(cè)量介紹
表面所具有的微觀幾何形狀統(tǒng)稱為表面形貌。近年來(lái),隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展進(jìn)步,對(duì)各種材料表面精度提出了越來(lái)越高的要求;同時(shí)隨著用戶對(duì)產(chǎn)品的要求越來(lái)越高,行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)越來(lái)越嚴(yán)格,制造業(yè)自動(dòng)化水平的提高,許多行業(yè)面臨整個(gè)工藝流程的改革,因此表面檢測(cè)越來(lái)越被企業(yè)所重視。
形貌觀察與測(cè)量意義
①材料表面的微觀幾何形貌特性在很大程度上影響著它的許多技術(shù)性能和使用功能。
②觀察材料表面形貌,為研究樣品形態(tài)結(jié)構(gòu)提供了便利,有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量,改善工藝。
應(yīng)用領(lǐng)域
材料、電子、無(wú)鉛焊接、機(jī)械加工、半導(dǎo)體制造、航空、汽車、陶瓷品、地質(zhì)學(xué)、醫(yī)學(xué)、冶金等。
測(cè)試流程
樣品要求
電子顯微鏡觀察樣品要求:非磁性或弱磁性,不易潮解且無(wú)揮發(fā)性的固態(tài)樣品,小于8CM*8CM*2CM 。
光學(xué)顯微鏡觀察樣品要求: 無(wú)特殊要求。
測(cè)試步驟
確認(rèn)樣品類型→確認(rèn)檢驗(yàn)規(guī)范→觀察樣品→記錄觀察現(xiàn)象/測(cè)量數(shù)據(jù)評(píng)定→結(jié)果評(píng)定
參考標(biāo)準(zhǔn)
1.美信檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室根據(jù)樣品情況推薦標(biāo)準(zhǔn)
2.客戶提供或建議使用標(biāo)準(zhǔn)
常用標(biāo)準(zhǔn)(部分)
JYT 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
GB/T 16594-2008 微米級(jí)長(zhǎng)度的掃描電鏡測(cè)量方法通則
IPC-6012 剛性印制板的鑒定及性能規(guī)范
IPC-A-610電子組件的可接受性
JIS B 0601-2013產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面結(jié)構(gòu)輪廓法.術(shù)語(yǔ)、定義和表面結(jié)構(gòu)參數(shù)
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1.表面形貌觀察與測(cè)量
掃描電子顯微鏡進(jìn)行形貌觀察的主要內(nèi)容是分析材料的幾何形貌、材料的顆粒度及顆粒度的分布、物相的結(jié)構(gòu)等。
光學(xué)顯微鏡主要應(yīng)用于工裝檢具、金屬件等的檢定,電子產(chǎn)品組裝、偏移、焊接異常檢驗(yàn),PCB/PCBA線路、防焊、孔、零件對(duì)準(zhǔn)度以及文字圖形缺陷檢驗(yàn)。
2.特性尺寸測(cè)定
3.表面粗糙度分析
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