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表面異物分析
有機(jī)異物分析 | 無(wú)機(jī)異物分析 | 未知異物分析 | 產(chǎn)品異?,F(xiàn)象比對(duì)分析 |
表面異物分析介紹
異物,指的是混入原料或產(chǎn)品里的除對(duì)象物品以外的物質(zhì)。
在生產(chǎn)使用過(guò)程中,產(chǎn)品表面往往容易被污染、腐蝕、氧化,或者由于生產(chǎn)缺陷、疏忽等原因引入和形成異物,增加了產(chǎn)品不良率,對(duì)產(chǎn)品的使用性能帶來(lái)極大影響。異物的生成原因比較多,例如原材料不純、反應(yīng)有副產(chǎn)物、工藝控制不規(guī)范或工藝配方不成熟等。
本項(xiàng)目通過(guò)分析異物,獲得其所含的元素、化學(xué)成分,結(jié)合廠家對(duì)產(chǎn)品和工藝的了解找出異物產(chǎn)生的真正原因,通過(guò)廠家對(duì)配方工藝等的改進(jìn)調(diào)節(jié)進(jìn)而避免異物的產(chǎn)生。
該技術(shù)是專門針對(duì)產(chǎn)品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物的分析技術(shù)。例如對(duì)表面嵌入或析出的顆粒物、小分子遷移物、斑點(diǎn)、油狀物、霧狀物、橡膠噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析,藉此找尋污染源或配方不相容者,是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。
表面異物分析意義
①快速判斷異物或雜質(zhì)的成分,分析產(chǎn)生原因,進(jìn)行整改提升產(chǎn)品良率;
②通過(guò)對(duì)異常物質(zhì)分析,進(jìn)行配方完善;
③消除生產(chǎn)隱患;
④保障生產(chǎn)的穩(wěn)定性。
應(yīng)用范圍
廣泛應(yīng)用于化工產(chǎn)品、航空產(chǎn)品及其零部件、汽車產(chǎn)品及其零部件、LCM系列產(chǎn)品、PCB&PCBA、電子元件及半導(dǎo)體產(chǎn)品等。
主要分析方法
方法 | 應(yīng)用范圍 |
紅外光譜法 FTIR |
1.顯微FTIR, 僅需10um以上樣品即可測(cè)試 2.有機(jī)物成分分析 (400-4000cm-1 |
掃描電子顯微鏡和能量色散X射線譜法 SEM/EDS |
1.固體 2.元素分析/元素分布 (B-~U) /形貌觀察 |
俄歇電子能譜分析儀法 AES |
極表面 (0-3nm) 分析設(shè)備 |
X射線電子光能譜分析法 XPS |
1.更精密的元素分析 2.元素價(jià)態(tài), 存在形式分析 |
飛行時(shí)間?次離子質(zhì)譜分析法 TOF-SIMS |
ppm級(jí)別表面有機(jī)成分分析 |
動(dòng)態(tài)?次離子質(zhì)譜分析法 D-SIMS |
ppb級(jí)表面及芯部成分分析 |
氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀分析法 GC-MS |
1.固體/液體 2.易揮發(fā)組分測(cè)試 |
如果您的產(chǎn)品有任何污染或嵌入的異物產(chǎn)生,那么對(duì)其進(jìn)行異物分析是迫切的,否則嚴(yán)重會(huì)致使產(chǎn)品失效。美信檢測(cè)分析工程師對(duì)產(chǎn)品的異物進(jìn)行分析,從而確定異物的成分和形成的原因,幫您從源頭解決問(wèn)題!
表面異物分析項(xiàng)目
針對(duì)產(chǎn)品表面的有機(jī)異物,根據(jù)異物的形態(tài)、檢測(cè)深度及檢測(cè)面積等差異而選用特定的儀器,對(duì)其有機(jī)成分進(jìn)行分析,判定其主成分,從而獲取異物信息的一種分析方法。
有機(jī)異物在放大觀察下常常表現(xiàn)出較為透明且性軟等特點(diǎn)。
針對(duì)產(chǎn)品表面的無(wú)機(jī)異物,根據(jù)異物的形態(tài)、檢測(cè)深度及檢測(cè)面積等差異而選用特定的儀器,對(duì)其無(wú)機(jī)成分進(jìn)行分析,測(cè)定其中元素成分及含量,進(jìn)而分析組成的一種分析方法。
相較與有機(jī)異物,無(wú)機(jī)異物則表現(xiàn)出質(zhì)地更硬,色澤更深更多樣,部分具有明顯晶型,且較不透光等特點(diǎn)。
主要針對(duì)較難辨別異物類型的情況下進(jìn)行的綜合分析,主要是結(jié)合了有機(jī)異物分析及無(wú)機(jī)異物分析的方法。
例如:電子產(chǎn)品的嵌入異物或異樣斑點(diǎn);表面污染物、析出物、油狀物、霧狀物;橡膠噴霜;工業(yè)產(chǎn)品黃變、發(fā)黑;化工產(chǎn)品的雜質(zhì)、副產(chǎn)物等。
4.產(chǎn)品異?,F(xiàn)象比對(duì)分析
產(chǎn)品異?,F(xiàn)象比對(duì)分析是利用材料的分子圖譜特性,制定快速的一致性檢測(cè)方法,判定產(chǎn)品材料的一致性,從而分析產(chǎn)品異?,F(xiàn)象的原因。
應(yīng)用實(shí)例一
圖為某客戶PCB樣品中金屬部位表面產(chǎn)生異常白色塊狀異物,需要對(duì)此異物進(jìn)行分析,確認(rèn)是否為阻焊劑殘留。
測(cè)試結(jié)果:
異物紅外光譜中3500~2500 cm-1范圍內(nèi)的強(qiáng)吸收峰與1708 cm-1處的鈍吸收峰很明顯為羧酸中羥基伸縮振動(dòng)吸收,與羧酸中羰基伸縮振動(dòng)吸收。通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)譜圖對(duì)比易知異物主成分為己二酸,己二酸在助焊劑中是一種活性成分。
應(yīng)用實(shí)例二
圖為客戶送檢樣品背光模組導(dǎo)光板上白斑在顯微鏡下顯示的圖像(50X)。需要分析出該物質(zhì)為何種成分,是否來(lái)自本身背光模組。
使用專門的取樣工具將異物取出,用顯微紅外進(jìn)行微小異物測(cè)試。
測(cè)試結(jié)果:
由FTIR測(cè)試得到左邊紅外光譜,光譜中1730cm-1處吸收峰為明顯的酯類物質(zhì)特征吸收峰1235 cm-1, 1161 cm-1處肩峰為聚丙烯酸酯最特征的吸收峰。 故而易知異物主成分為聚丙烯酸酯,是一種光學(xué)膠黏劑。
應(yīng)用實(shí)例三
圖為某客戶電鍍件,使用一段時(shí)間后發(fā)現(xiàn)表面出現(xiàn)墨綠色異常物質(zhì),最終評(píng)估采用FTIR-AES聯(lián)用對(duì)該異常物質(zhì)進(jìn)行成分分析。
測(cè)試結(jié)果:
由紅外光譜結(jié)果可知,異物紅外光譜在1420cm-1和850cm-1附近發(fā)現(xiàn)了強(qiáng)烈的吸收,屬于碳酸鹽的特征吸收譜帶,而吸收峰藍(lán)移的原因是樣品的水合狀態(tài)。AES結(jié)果顯示,墨綠色異常物質(zhì)顯示出Cu2+特征,
綜合分析結(jié)果推斷墨綠色異常物質(zhì)主要成分為堿式碳酸銅。
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