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X-RAY在BGA焊接質(zhì)量檢驗(yàn)中的應(yīng)用

2016-03-21  瀏覽量:4478
摘要
本文主要介紹了X-RAY在BGA焊接質(zhì)量檢驗(yàn)中的應(yīng)用。
 
關(guān)鍵詞
X-RAY,BGA,檢驗(yàn),IPC-A-610E,GJB 548B
 
前言
作為小型器件典范的BGA器件近些年來(lái)在電子產(chǎn)品中應(yīng)用非常廣泛,與QFP封裝器件或PLCC封裝器件相比,BGA器件具有引腳數(shù)目更多、引腳間電感及電容更小、引腳共面性好、電性能及散熱性能好等諸多優(yōu)點(diǎn)。雖然BGA器件有諸多方面的優(yōu)點(diǎn),但仍存在著無(wú)法改變的不足之處:即BGA器件在焊接完成之后,由于其焊點(diǎn)全部在器件本體腹底之下,因此既無(wú)法采用傳統(tǒng)的目測(cè)方法觀測(cè)檢驗(yàn)全部焊點(diǎn)的焊接質(zhì)量,也不能應(yīng)用AOI(自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn))設(shè)備對(duì)焊點(diǎn)外觀做質(zhì)量評(píng)判,目前通用的方式均采用X-ray檢驗(yàn)設(shè)備對(duì)BGA器件焊點(diǎn)的物理結(jié)構(gòu)進(jìn)行檢驗(yàn)。
 
X-RAY檢驗(yàn)原理
X-ray檢驗(yàn)設(shè)備是基于X射線的影像原理,由X射線發(fā)生裝置發(fā)出X射線,對(duì)被檢驗(yàn)印制板組及BGA器件進(jìn)行照射,利用X射線不能穿透錫、鉛等密度大且厚的物質(zhì),可形成深色影像,而會(huì)輕易穿透印制板及塑料封裝等密度小且薄的物質(zhì),不會(huì)形成影像的現(xiàn)象,實(shí)現(xiàn)對(duì)BGA器件焊接焊點(diǎn)的質(zhì)量檢驗(yàn)。X-RAY檢測(cè)原理如下圖所示:
 
X-Ray X-Ray
 
焊點(diǎn)缺陷
a. 焊點(diǎn)缺陷種類(lèi)
BGA器件焊點(diǎn)缺陷主要有焊料橋連、焊錫珠、空洞、錯(cuò)位、開(kāi)路和焊料球丟失、焊接連接處破裂、虛焊等。
b.焊料橋連
由于焊料橋連最終導(dǎo)致的結(jié)果就是電氣短路,因此BGA器件焊接后,各相鄰焊料球之間應(yīng)無(wú)焊料橋連。這種缺陷在采用X-ray檢驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)時(shí)比較明顯,在影像區(qū)內(nèi)可見(jiàn)焊料球與焊料球之間呈現(xiàn)連續(xù)的連接,容易觀察和判斷。
c.焊錫珠
焊錫珠是表面貼裝過(guò)程中的主要缺陷之一,造成焊錫珠的原因有很多。這種缺陷在X-ray影像區(qū)內(nèi)也易于識(shí)別,應(yīng)用X-ray檢驗(yàn)設(shè)備觀察測(cè)量焊錫珠時(shí),應(yīng)主要注意其尺寸要求和位置要求,并且不違反最小電氣間隙要求。
d.空洞
空洞在BGA器件焊接后是最常見(jiàn)的,因?yàn)橥S多BGA器件本身的焊料球就可能帶有空洞或氣孔,在回流焊接過(guò)程中,回流曲線設(shè)置不合理則更容易產(chǎn)生空洞。GJB 4907-2003與IPC-A-610E標(biāo)準(zhǔn)均對(duì)空洞做出了評(píng)判準(zhǔn)則,但評(píng)判尺度存在差異。其中GJB 4907-2003中規(guī)定焊點(diǎn)空洞應(yīng)不大于焊點(diǎn)體積的15%,而IPC-A-610E中規(guī)定X-ray影像區(qū)內(nèi)任何焊料球的空洞應(yīng)不大于25%。
e.虛焊
一般虛焊都是由于回流焊接過(guò)程不充分造成的。在回流焊接過(guò)程中,焊料球與錫膏沒(méi)有形成良好地熔融,無(wú)法形成潤(rùn)濕良好的共晶體。虛焊是一種不容忽視的缺陷,容易造成器件脫落,影響器件的電氣性能。虛焊缺陷也必須通過(guò)旋轉(zhuǎn)X射線角度進(jìn)行檢驗(yàn),從而及時(shí)采取有效措施避免它的發(fā)生。
 
典型圖片
 
檢測(cè)項(xiàng)目 圖示 標(biāo)準(zhǔn)
BGA短路 BGA短路 BGA錫球短路會(huì)造成功能性不良。
BGA空洞 BGA空洞 BGA錫球氣孔,氣孔大小不能超過(guò)球體20%。
BGA錫球開(kāi)裂 BGA錫球開(kāi)裂 BGA錫球,可靠性不牢判為拒收
 
小結(jié):
利用X-ray檢驗(yàn)設(shè)備對(duì)BGA器件焊接質(zhì)量進(jìn)行檢驗(yàn)是一種高性價(jià)比的檢驗(yàn)手段。隨著新技術(shù)的發(fā)展,超高分辨率、智能化的X-ray檢驗(yàn)設(shè)備不僅會(huì)為BAG器件組裝提供省時(shí)、省力、可靠的保障,也能夠在電子產(chǎn)品故障分析中扮演重要的角色,提高故障排查效率。
 
參考文獻(xiàn)
IPC-A-610E 電子組裝件的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)
GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序
GJB 4907-2003 球柵陣列封裝器件組裝通用要求
李柏東,《淺談X—ray檢驗(yàn)設(shè)備評(píng)判BGA器件焊接質(zhì)量》,《科技創(chuàng)新與應(yīng)用》2014年第24期
 
*** 結(jié)束 ***
 
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