2016年10月26-28日，美信檢測亮相第七屆中國國際納米技術產(chǎn)業(yè)博覽會（簡稱“納博會”），本屆博覽會主要聚焦納米新材料、分析與檢測、微納制造、納米生物與醫(yī)藥、納米環(huán)保與清潔等領域的產(chǎn)品與技術，展會現(xiàn)場，俄羅斯展團、加拿大展團、伊朗展團、韓國展團、北京展團、深圳展團、臺灣展團及沙特展團等超過8個國際與地區(qū)展團攜帶納米技術領域的新產(chǎn)品與技術亮相納博會。

美信檢測受邀參加本次大會，目前先進的納米級材料檢測技術現(xiàn)場展示與專業(yè)工程師的講解是展會的一大亮點，本次展會主要分享了高端表面分析技術，利用電子、光子、離子、原子、強電場、熱能等與固體表面的相互作用，測量從表面散射或發(fā)射的電子、光子、離子、原子、分子的能譜、光譜、質(zhì)譜、空間分布或衍射圖像，得到表面成分、表面結(jié)構、表面電子態(tài)及表面物理化學過程等信息，具體的高端分析技術如AES、XPS、TOF-SIMS、D-SIMS、FIB、TEM、XRD等，現(xiàn)場專業(yè)觀眾慕名而來，與美信檢測專業(yè)技術工程師共同探討技術問題。

該展會展示的項目可檢測納米級微區(qū)元素定量分析、極表面元素定量分析、元素濃度深度剖析、納米級超薄膜厚分析、元素價態(tài)分析、微米級微區(qū)元素定量分析、ppm級別痕量有機物分子式分析、ppb級別摻雜雜質(zhì)元素濃度深度剖析、微區(qū)定位切割、電路修改、晶體取向分析、晶格參數(shù)測定等等。美信檢測致力于材料檢測，針對納米材料相關檢測項目已非常完善，美信檢測可大大降低材料技術領域創(chuàng)新團隊的創(chuàng)業(yè)成本和創(chuàng)業(yè)難度，提升轉(zhuǎn)化效率和成功率，推動項目的研發(fā)和產(chǎn)業(yè)化，搶占材料技術領域制高點，也可幫助企業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量，降低研發(fā)成本，為各企業(yè)提供一站式檢測咨詢服務。

AES分析某元器件起泡位置存在S污染
晶粒度	FIB電路鍍層厚度觀察

本屆納博會大咖云集，市委常委、副市長、園區(qū)工委書記王翔出席開幕式。并邀請美國科學院院士楊培東教授、澳大利亞科學院和工程院院士余艾冰教授、中科院院士江雷研究員和美國斯坦福大學崔屹教授，中國納米科學中心納米標準研究室主任葛廣路等一批國內(nèi)外知名專家、企業(yè)家，美信檢測在參加展會的同時，不斷吸收先進的技術，致力于為客戶提供專業(yè)的技術服務。

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MTT（美信檢測）是一家從事材料及零部件品質(zhì)檢驗、鑒定、認證及失效分析服務的第三方實驗室，網(wǎng)址：www.baoxiande.cn，聯(lián)系電話：400-850-4050。