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焊點開裂不良失效分析

2017-01-17  瀏覽量:6084

鄧勝良

(深圳市美信檢測技術(shù)股份有限公司,深圳寶安,518108)

 

摘要:某化鎳浸金的FPC軟板,在組裝完成后,發(fā)現(xiàn)部分焊點存在開裂失效。通過外觀檢查,表面分析及剖面分析等分析手段,發(fā)現(xiàn)焊盤中鎳層存在開裂,在焊接過程中,Cu過度的擴(kuò)散到金屬間化合物中去,嚴(yán)重降低金屬間化合物與鍍層之間的強(qiáng)度,導(dǎo)致焊點發(fā)生開裂失效。

 

關(guān)鍵詞:焊點開裂;鎳層斷裂;銅擴(kuò)散

 

1 案例背景

送檢樣品為某FPC板,該FPC板經(jīng)過SMT后經(jīng)輥筒測試,發(fā)現(xiàn)部分焊點存在開裂失效。該PCB板焊盤表面處理工藝為化鎳浸金。

 

2 分析方法簡述

如圖1和2所示,失效焊點斷裂界面呈明顯的脆性斷口,失效焊盤鎳層存在明顯的開裂現(xiàn)象。通過切片分析,失效焊點主要開裂在IMC層與Ni層之間的界面處,失效焊點IMC層中Cu含量明顯高于Ni含量。

 

失效分析 失效分析
圖1 失效樣品外觀圖片
失效分析 失效分析
圖2 失效樣品SEM圖片
失效分析 失效分析
圖3 失效焊點的切片圖

 

表1. NG-3焊點切片EDS測試結(jié)果(Wt%)

Spectrum C O Ni Cu Sn Total
位置1 2.5 1.5 16.5 34.4 45.2 100.0
位置2 2.4 2.0 14.0 26.2 55.4 100.0
位置3 1.5 2.0 5.2 13.2 78.1 100.0
位置4 1.8 6.6 / / 91.6 100.0

 

3 分析與討論

該焊點失效界面為典型的銅擴(kuò)散現(xiàn)象,正常的ENIG焊盤與焊料之間形成Ni3Sn4的IMC層,Ni層作為阻擋層,阻擋Cu向焊料擴(kuò)散,亦或形成少量的(Cu,Ni)6Sn5的三元合金,當(dāng)Ni層發(fā)生開裂時,Cu會沿裂縫向焊料急劇擴(kuò)散,當(dāng)Cu大量異常的向錫鎳合金擴(kuò)散時,必然改變IMC的結(jié)構(gòu)和物理性能,其機(jī)械性能弱化,脆性增加而與Ni層的結(jié)合力減弱,在受到外力作用下,易發(fā)生開裂失效現(xiàn)象。SMT的高溫和長時間回流焊及焊盤的Ni層開裂均有助于Cu擴(kuò)散現(xiàn)象的發(fā)生。

 

本案焊點失效的主要原因為在SMT前,焊盤的Ni鍍層存在開裂,致使在焊接過程中Cu向IMC層大量擴(kuò)散,改變了IMC層的結(jié)構(gòu)和物料特性,致使界面機(jī)械性能嚴(yán)重下降。

 

*** 以上內(nèi)容均為原創(chuàng),如需轉(zhuǎn)載,請注明出處 ***

 

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