2017年11月3日為期3天的第十四屆“中國光谷”國際光電子博覽會暨論壇圓滿落幕。此次以“光聯(lián)萬物，智引未來”為主題的光博會，展覽面積2萬平方米，共舉辦1場高峰論壇和6場主題論壇；吸引了來自美、英、德、俄等17個國家和地區(qū)的近500家參展商；展期3天到場觀眾總?cè)藬?shù)4.2萬人，來自38個國家和地區(qū)的超過3.3萬名專業(yè)觀眾前來觀展。

在展會現(xiàn)場集中展示了全球范圍內(nèi)光電科技信息化、智能化、跨界化發(fā)展的新技術(shù)、新產(chǎn)品、新應(yīng)用，讓參展觀眾們提前感受“光能+智能”創(chuàng)造的未來生活！美信檢測作為專業(yè)的第三方檢測機構(gòu)應(yīng)邀參展，與眾多的優(yōu)質(zhì)展商一起，助力光博會的圓滿舉行。

在美信檢測展位現(xiàn)場，失效分析技術(shù)成咨詢熱點，觀眾紛紛駐足停留，好奇不已，我們專業(yè)工程師同事一對一耐心解答。

美信檢測在失效分析領(lǐng)域有著豐富的經(jīng)驗，對于PCB/PCBA、電子元器件、集成電路等項目方面有著先進的檢測技術(shù)服務(wù)，同時美信咨詢提供全質(zhì)量流程的改進方案，完善內(nèi)部質(zhì)量管控體系，提升客戶的產(chǎn)品品質(zhì)。

失效分析的模式

典型失效分析的流程

失效分析的意義

失效分析對產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用都具有重要的意義，失效可能發(fā)生在產(chǎn)品壽命周期的各個階段，涉及產(chǎn)品的研發(fā)設(shè)計、來料檢驗、加工組裝、測試篩選、客戶端使用等各個環(huán)節(jié)，通過分析工藝廢次品、早期失效、試驗失效、中試失效以及現(xiàn)場失效的樣品，確認失效模式、分析失效機理，明確失效原因，最終給出預(yù)防對策，減少或避免失效的再次發(fā)生。