來源：材料與測試

層壓材料的聚合物膜通過硅氧烷脫模層，與金屬化的聚對苯二甲酸乙二醇酯相接觸。聚合物膜上含有丙烯酸型壓感膠粘劑，通常產(chǎn)生大小為50-200微米的孤立缺陷，如圖1所示。缺陷將造成壓感膠粘劑表面不必要的金屬化。圖2展示的是光學(xué)顯微鏡下的缺陷。

圖1 壓感膠粘劑聚合物樣本的缺陷示意圖

圖2 光學(xué)顯微鏡下的缺陷

鑒于膠粘劑的失效，對樣本進行雙面檢測是有必要的，因為組分很有可能從一邊遷移至另一邊。雙面檢測還有助于確認失效所處位置，這在包含遷移材料的多層膠粘劑中并不明顯。

本案例中采用X射線光電子能譜儀對200微米的缺陷進行雙面檢測。

在金屬面的空位型缺陷處探測到的成分包括：CHx、C-O、O-C=O和硅。該結(jié)果與覆蓋了1-2單層硅樹脂的聚對苯二甲酸乙二醇酯中的元素相一致。周圍區(qū)域是釋放硅的材料，因此由于失效，硅已經(jīng)遷移至缺陷區(qū)域。失效的壓感膠粘劑表面（例如底面綠的脫落）包括鋁、氧化鋁、CHx、C-O、O-C=O和硅，如下表所示。失效所處位置在聚合物與鋁的表面。

表：雙面檢測缺陷層和參考層得到的量化結(jié)果

仔細觀察底面鋁脫落處的碳光譜，可以發(fā)現(xiàn)C-O的峰值與O-C=O的峰值相同。這一現(xiàn)象證明了酯的存在。然而硅樹脂中存在少量的甲基，理論上來說這應(yīng)是僅有的有機物質(zhì)，甲基由于失效而未被檢測到?？紤]聚對苯二甲酸乙二醇酯的金屬化，從高分辨率光譜中仍能發(fā)現(xiàn)細小的線索。

酯來源于脂肪族酯，并非如同聚對苯二甲酸乙二醇酯的聚芳酰胺，如圖3所示。確切的說，缺陷中CHx和C-O距離、CHx和O-C=O距離的能帶能級比聚對苯二甲酸乙二醇酯的參考樣本能級高出0.25-0.3eV。這樣的轉(zhuǎn)變與聚對苯二甲酸乙二醇酯上存在脂肪族酯相一致，脂肪族酯的存在早于金屬化，這造成了膠粘劑膜的失效。

圖3 從缺陷處（下）得到高分辨率碳光譜與聚對苯二甲酸乙二酯的參考值（上）的比較，表明C-O和O-C=O的結(jié)合能有所變化