微觀材料世界的極致美景

掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。

掃描電鏡（SEM）特點(diǎn)

1. 有較高的放大倍數(shù)，20-20萬倍之間連續(xù)可調(diào)；

2. 有很大的景深，視野大，圖像的分辨率高，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；

3. 對(duì)于導(dǎo)電材料，可直接放入樣品室進(jìn)行分析，對(duì)于導(dǎo)電性差或絕緣的樣品則需要噴鍍導(dǎo)電層。

4. 制樣簡單。

掃描電鏡技術(shù)在材料領(lǐng)域的應(yīng)用十分廣泛，能夠幫助客戶進(jìn)行金屬材料斷口分析、材料納米級(jí)尺寸檢測(cè)、樣品表面形貌觀察與測(cè)量、電子材料切片分析、涂鍍層厚度測(cè)量、材料的顯微結(jié)構(gòu)分析等等方面的檢測(cè)，幫助企業(yè)有效監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量，改善工藝。

典型應(yīng)用案例展示

1. 金屬材料斷口分析。 通過對(duì)斷口微觀形貌的觀察，根據(jù)脆性斷裂及韌性斷裂機(jī)理，結(jié)合材料受力狀態(tài)分析，找出失效根源。

2. 材料表面形貌觀察與測(cè)量。通過掃描電子顯微鏡觀察材料表面形貌，為研究樣品形態(tài)結(jié)構(gòu)提供了便利，觀察的主要內(nèi)容是分析材料的幾何形貌、材料的顆粒度、及顆粒度的分布、物相的結(jié)構(gòu)等。

3. 材料的鍍層厚度測(cè)量。

金屬覆蓋層的厚度及其均勻性是覆蓋層的重要質(zhì)量標(biāo)志，它在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。檢測(cè)材料表面的金屬覆蓋層的厚度及其均勻性，有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量，改善工藝，提高效益。

金屬制件和設(shè)備的表面覆蓋耐蝕非金屬保護(hù)層是金屬防腐蝕的重要手段之一。目的是將金屬 /環(huán)境界面代之以金屬/非金屬層/環(huán)境的界面，利用非金屬材料的耐蝕、抗?jié)B、緩蝕性能保護(hù)金屬免受環(huán)境的侵蝕，從而延長其使用壽命。

4. LED芯片的內(nèi)部構(gòu)造觀察

掃描電鏡（SEM）實(shí)際作用

對(duì)于企業(yè)來說，掃描電鏡（SEM）能解決哪些問題？為什么需要使用SEM進(jìn)行檢測(cè)？

1. SEM在材料失效分析中起重要作用，幫助企業(yè)尋找產(chǎn)品失效的根本原因，進(jìn)而改善產(chǎn)品質(zhì)量。

2. 利用SEM進(jìn)行材料的形貌觀察與測(cè)量，有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量，改善工藝；幫助企業(yè)對(duì)產(chǎn)品的使用壽命和可靠性進(jìn)行監(jiān)控；幫助企業(yè)快速獲取實(shí)際尺寸、檢驗(yàn)產(chǎn)品質(zhì)量以及精確控制工藝流程。

3. 觀察檢測(cè)產(chǎn)品多處的涂鍍層厚度的精確數(shù)值，幫助企業(yè)判定產(chǎn)品質(zhì)量是否達(dá)標(biāo)。

4. 掃描電鏡在半導(dǎo)體行業(yè)中的應(yīng)用已經(jīng)深入到許多方面，有效幫助企業(yè)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量進(jìn)行監(jiān)控，對(duì)失效問題進(jìn)行分析。

由于掃描電鏡（SEM）在材料領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，對(duì)于不同的材料、需要檢測(cè)的方向及標(biāo)準(zhǔn)不同，對(duì)于樣品自身和測(cè)試條件的要求也是各異的，這造成了我們?cè)趹?yīng)用SEM分析中存在許多的未知問題和認(rèn)知誤區(qū)，如：

不同材質(zhì)的SEM樣品制樣要求是否一致？

利用SEM分析金屬材料斷裂失效，常見失效機(jī)理眾多，如韌窩斷裂、解理斷裂、滑移分離等等，如何判定？

材料的涂鍍層厚度測(cè)量，如何判定產(chǎn)品質(zhì)量是否達(dá)標(biāo)？

各涂鍍層材料的組分構(gòu)成對(duì)產(chǎn)品的影響有多大？

對(duì)材料進(jìn)行形貌觀察與測(cè)量，具體的實(shí)際意義在哪里？

……

面對(duì)這么多的問題，如何才能解答？如何深度了解掃描電鏡（SEM）的分析應(yīng)用，避免進(jìn)入認(rèn)知誤區(qū)？

美信檢測(cè)在8月10日推出了一場(chǎng)以“SEM分析技術(shù)與CP制樣技術(shù)”為主題的小型專題技術(shù)沙龍，特邀關(guān)注此課題的嘉賓們前來參加！

幫助客戶針對(duì)性的對(duì)掃描電鏡（SEM）相關(guān)應(yīng)用知識(shí)進(jìn)行深度解讀，同時(shí)幫助客戶識(shí)別SEM技術(shù)應(yīng)用中的誤區(qū)，并進(jìn)行規(guī)避，還將對(duì)相關(guān)存在疑問的內(nèi)容，進(jìn)行專業(yè)解答！

課題內(nèi)容從掃描電鏡的原理與功能講解出發(fā)，對(duì)其在現(xiàn)代科學(xué)與產(chǎn)業(yè)界的應(yīng)用進(jìn)行分析，而后對(duì)掃描電鏡在分析中可能產(chǎn)生的誤區(qū)進(jìn)行全面解答，最后詮釋顯微分析新技術(shù)及發(fā)展趨勢(shì)。

以案例講解為主，導(dǎo)入掃描電鏡原理與功能分析等知識(shí)點(diǎn)，分享分析技巧，幫助企業(yè)改進(jìn)來料質(zhì)量和改善工藝，最終提高產(chǎn)品品質(zhì)！