掃描電鏡與顯微分析技術培訓
近幾年來,掃描電鏡與顯微分析技術廣泛應用于材料、冶金、化學和半導體等各個研究領域和工業(yè)部門,然而電鏡原理晦澀難懂,技術人員操作不得其法已成常態(tài)。如何了解其中原理與技術,正確掌握設備操作技術與操作原理,提升技術人員操作水平與技術能力,提高設備使用效益,已成為行業(yè)不可忽視的重要問題。
掃描電鏡與顯微分析技術培訓,面向?qū)嶋H,以實用和實踐為目的,將理論和技術結(jié)合,深度分析講解掃描電鏡與顯微分析(EDS)的原理及實踐操作技術。
報名本次培訓課程的學員將免費獲得教材《掃描電鏡與顯微分析的原理、技術與進展》(三個月內(nèi)出版)
課程特色
課程內(nèi)容
系統(tǒng)講述當代掃描電鏡與顯微分析(EDS)的原理及技術。由淺入深,深入淺出,以實用和實踐為目的,將理論和技術結(jié)合,分析詳解更多實用知識和實踐技巧。各部分內(nèi)容層層深入又相互銜接,原理與技術緊密結(jié)合,突出近些年來出現(xiàn)和應用的新技術,如低加速電壓、能量過濾、硅漂移探測器等。
講師經(jīng)驗
在電子顯微鏡分析、X射線衍射分析,以及其他材料科學表征方法的研究、測試和教學方面經(jīng)驗豐富。有豐富的圖例和自作的教具,同時總結(jié)近年來新進展和先進技術,讓學員能夠發(fā)現(xiàn)技術背后的原理,理解技術在原理上的實現(xiàn),在此基礎上發(fā)揮設備更多功能,實現(xiàn)更好效果。
企業(yè)內(nèi)訓
該課程接受企業(yè)內(nèi)訓或咨詢服務,詳情可聯(lián)系手機13392891259進行咨詢。學員也可在培訓前將遇到的各種實踐操作技術難題反饋給講師,講師將在培訓現(xiàn)場詳細解答。
培訓大綱
一、電鏡基礎知識
1 認識初步——從電鏡圖像說起
1.1 掃描電鏡圖像上的信息
1.2 掃描電鏡的特點和分類
2 操縱和利用電子——電子在電場和磁場中的運動
2.1 為什么使用電子成像
2.2 認識電子
2.3 電子在磁場和電場中的運動
2.4 電子光學參數(shù)
3 掃描電鏡的結(jié)構和掃描成像的實現(xiàn)
3.1 掃描成像的實現(xiàn)
3.2 掃描電鏡的總體結(jié)構
3.3 電子槍、聚光鏡、光闌、物鏡和探測器
3.4 真空系統(tǒng)和樣品臺
4 可供利用的各種信號——電子束與樣品的相互作用
4.1 二次電子及其特點
4.2 背散射電子及其特點
4.3 沒那么簡單——二次電子和背散射電子的關系
4.4 相互作用區(qū)和溢出區(qū)
5 圖像襯度和產(chǎn)生機制
5.1 形貌襯度
5.2 成分襯度
5.3 取向襯度
5.4 電位襯度
5.5 信號電子的能量和角度分布對襯度的影響
6 圖像解釋和探測器的選擇
6.1 簡單解釋圖像的方法
6.2 現(xiàn)代探測器的探測原理
7 圖像的信噪比和襯度的可見性
7.1 圖像的信噪比及其影響因素
7.2 襯度的可見性
8 成像假象與克服
8.1 荷電
8.2 積碳
8.3 熱分解及輻照損傷
8.4 圖像漂移
二、實驗技術與提高
9 再認識——高分辨成像
9.1 影響圖片分辨率的因素和障礙
9.2 高分辨策略
10 新機遇——低電壓成像
10.1 低加速電壓的圖像特點
10.2 低加速電壓的機遇與挑戰(zhàn)
11 掃描電鏡操作和制樣指導
11.1 合軸和消像散
11.2 拍攝技巧和參數(shù)選擇
11.3 制樣方法簡述
三、顯微分析
12 能譜技術基本原理——X射線的產(chǎn)生和探測
12.1 能譜的技術特征
12.2 X射線的基本概念
12.3 能譜儀工作原理和相關參數(shù)
13 能譜分析技術
13.1 定性分析的技巧
13.2 定量分析的注意事項
13.3 能譜面分布
13.4 低電壓能譜技術
講師介紹
高尚,美信檢測專家顧問。在電子顯微鏡分析、X射線衍射分析,以及其他材料科學表征方法的研究、測試和教學方面經(jīng)驗豐富。參與國家級項目3項,省市級項目十余項,主要負責測試保障。喜歡研讀外文電鏡文獻,鉆研電鏡測試方法與實驗技術,即將出版著作《掃描電鏡與顯微分析的原理、技術及進展》,以第一作發(fā)表實驗技術領域論文15篇,核心7篇。以第一發(fā)明人申請和獲授電鏡演示發(fā)明專利3項。在電鏡實驗教學方面,研究生教學經(jīng)驗豐富,主持教改項目3項,自作教具多套。
培訓詳情
培訓時間:2021年2月3-4日
培訓形式:為響應國家防疫政策,本次培訓采用線上直播。
直播回放:本次直播提供回放,回放有效期至2021年3月31日
培訓費用:2980元/人,費用包含培訓、結(jié)業(yè)證書、發(fā)票等費用。
優(yōu)惠活動:原價2980元/人,前15名報名立減500元!
報名方式:識別下方二維碼報名,或者聯(lián)系手機13392891259。
聯(lián)系方式
聯(lián)系人:劉久銘
電話:13392891259
電子郵箱:liujiuming@mttlab.com
固話:0755-36606281
《掃描電鏡與顯微分析的原理、技術與進展》
教材介紹
1 教材內(nèi)容
本書系統(tǒng)闡述了當代掃描電鏡及顯微分析的原理和技術,全書共16章。其中前十三章著重介紹掃描電鏡,后三章介紹顯微分析,包括能譜和電子背散射衍射技術。在掃描電鏡的基礎知識中,第一到第十章介紹了成像、電鏡結(jié)構、電子光學、信號的產(chǎn)生和接收、襯度和成像假象的基礎原理和知識,第十一章到第十三章為綜合知識應用,介紹了高分辨、低電壓成像和更具體的操作指引,以指導操作和實踐。
2 教材特點
本書以實用和實踐為目的,結(jié)合材料學科的特點,將理論和技術結(jié)合,同時突出近年來出現(xiàn)的先進技術。
3 面向?qū)ο?/strong>
本書主要供材料學科及相關研究領域的本科生、研究生、科研人員和測試人員參考和閱讀。
教材目錄
序言
第一章 圖像和成像的概念
第二章 電子在電場和磁場中的運動
第三章 電子光學參數(shù)和聚焦
第四章 電子掃描成像的實現(xiàn)和掃描電鏡的結(jié)構
第五章 成像缺陷和電子光學新進展
第六章 電子束與樣品的相互作用
第七章 圖像襯度和產(chǎn)生機制
第八章 圖像解釋和探測器的選擇
第九章 信噪比和襯度的可見性
第十章 成像假象和克服
第十一章 高分辨成像
第十二章 低電壓成像
第十三章 掃描電鏡操作和制樣指導
第十四章 能譜技術基本原理
第十五章 能譜分析技術
第十六章 電子背散射衍射技術
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