BGA器件焊接過程又出現(xiàn)問題?
BGA器件焊接過程又出現(xiàn)問題?
引言
某型號(hào)BGA組裝過程中存在一定比例的連錫失效,且連錫的位置相對(duì)固定。
現(xiàn)測試分析失效PCBA、BGA原物料、 PCB光板、正常PCBA及 PCBA半成品(第一面回流焊接后),查找失效原因。
測試分析
1 外觀檢查
失效PCBA結(jié)構(gòu)無明顯變形,問題BGA器件結(jié)構(gòu)完好,未發(fā)現(xiàn)明顯異常現(xiàn)象。
2 CT斷層掃描分析
通過CT三維成像技術(shù)對(duì)BGA器件進(jìn)行全面掃描分析,結(jié)果如下:
①連錫主要集中在器件其中一對(duì)角線的兩端;
②連錫失效對(duì)角線方向,焊點(diǎn)間隙明顯小于其他方向。
以上現(xiàn)象推測BGA在失效對(duì)角線方向變形嚴(yán)重,呈受擠壓的態(tài)勢。
圖1 CT斷層掃描結(jié)果
3 剝離分析
連錫失效BGA機(jī)械剝離后進(jìn)行觀察,發(fā)現(xiàn)對(duì)角線邊緣位置兩處連錫現(xiàn)象,與X-Ray觀察結(jié)果一致。連錫部位焊錫與PCB表面呈現(xiàn)完全不潤濕,接觸面表現(xiàn)為擠壓形貌,可以排除綠油表面能異常導(dǎo)致連錫的可能性。
如圖2、圖3及表1-2所示,連錫焊點(diǎn)位置未發(fā)現(xiàn)異常元素,形貌特征與圖1完全一致。
圖2 失效BGA剝離后照片
圖3 失效BGA剝離后表面SEM圖片
表1 失效BGA剝離后表面成分測試結(jié)果(wt.%)
4 剖面分析
4.1 連錫切片分析
對(duì)失效BGA切片后進(jìn)行SEM/EDS分析,連錫焊點(diǎn)IMC生成厚度正常,說明焊接熱輸入正常。連錫部位焊錫與PCB阻焊膜完全接觸,無空隙,這種現(xiàn)象預(yù)示著印刷錫膏過多或制程熱變形過大。
圖4 失效BGA剖面SEM圖片
表2 失效BGA剖面成分測試結(jié)果(wt.%)
4.2 焊點(diǎn)高度統(tǒng)計(jì)分析
為了確認(rèn)邊角受壓變形的程度,通過切片測量的方法,對(duì)兩對(duì)角線方向上焊點(diǎn)高度及焊點(diǎn)間隙進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì),結(jié)果如下:
失效BGA:
ROW1: 整體呈現(xiàn)兩邊焊點(diǎn)高度小、中間焊點(diǎn)高度大的趨勢,焊點(diǎn)高度最小146um, 最大201.3um,相差55.3um。焊點(diǎn)間隙呈現(xiàn)邊緣小中間大的趨勢,最小50.8um,最大102.7um;
ROW2(僅一半長度對(duì)角線): 整體呈現(xiàn)兩邊焊點(diǎn)高度小、中間焊點(diǎn)高度大的趨勢,焊點(diǎn)高度最小162.1um,最大190.9um,相差28.8um。焊點(diǎn)間隙呈現(xiàn)邊緣小中間大的趨勢,最小76.1um,最大118um。
焊點(diǎn)高度的降低是導(dǎo)致連錫失效的最為直接的原因。
圖5 失效BGA切片位置及焊點(diǎn)高度、焊點(diǎn)間隙統(tǒng)計(jì)圖
5 翹曲分析
為了確認(rèn)物料在回流過程中對(duì)角線方向發(fā)生變形的程度,利用Shadow moiré設(shè)備,對(duì)的動(dòng)態(tài)翹曲進(jìn)行測試。
PCB:兩個(gè)整體都呈現(xiàn)凸變形,最大變形都發(fā)現(xiàn)在1-3對(duì)角線(失效對(duì)角線)上,分別發(fā)生在加熱階段的150℃和180℃,變形量為28um和24um。
BGA:兩個(gè)整體都呈現(xiàn)凸變形,(錫球朝下放置時(shí)候,器件整體呈凹變形),最大變形都發(fā)現(xiàn)在2-4對(duì)角線上,分別發(fā)生在冷卻階段的222℃和加熱階段的180℃,變形量為42um和47um,本BGA器件熱變形符合要求。
PCBA半成品:整體呈現(xiàn)凹變形,且1-3對(duì)角線變形更為顯著,與實(shí)際切片結(jié)果一致。
動(dòng)態(tài)翹曲測試結(jié)果顯示,PCBA半成品焊接過程中整體發(fā)生凹變形,且失效對(duì)角線方向凹變形更為明顯,與焊接后實(shí)際變形趨勢一致。
結(jié)論
BGA在相對(duì)固定位置發(fā)生連錫的根本原因:PCBA半成品(第一面回流焊接)焊接過程中在固定對(duì)角線方向發(fā)生較大程度的凹變形,導(dǎo)致角落位置焊點(diǎn)受擠壓而連錫。
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