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電動汽車充電槍插針燒損 | 提高新能源安全性和可靠性

2024-06-20  瀏覽量:289

 

電動汽車充電槍插針燒損 | 提高新能源安全性和可靠性

 

新能源汽車作為綠色出行的代表,其普及和推廣離不開完善的充電設(shè)施。相比傳統(tǒng)汽車,新能源汽車需要承載更高的電流負荷,其安全性和可靠性成為了重要關(guān)注點。

本文將針對電動汽車充電槍上使用的插針進行了失效分析,對比觀察接觸電阻、異物成分、金相結(jié)構(gòu)等方面,通過深入分析,找出燒損原因。

 

背景

 

某產(chǎn)品在電動汽車上充電槍上使用,布置在室外等公共場所使用,運行過程中出現(xiàn)燒損,失效分析組為NG插針,編號為NG1~NG4;對比分析組為OK插針,均未使用,其中鎳鍍層樣件編號為OK1~OK10,銀鍍層樣件編號為Ag1~Ag6。

 

測試分析

 

1 外觀檢查

 

圖1為外觀圖,觀察可知,NG插針的銅線均無金屬光澤。NG1NG2可見漆皮燒毀、碳化發(fā)黑、金屬斷裂等現(xiàn)象,銅線表面可見綠色異物生成。NG4可見漆皮發(fā)黑,彎折后漆層易斷脫落等現(xiàn)象。OK插針的銅線均可見金屬光澤,銅線存在斷裂、壓傷等現(xiàn)象,部分銅線表面可見異物黏附,且呈淺綠色。

 

插針典型外觀圖

圖1 插針典型外觀圖

 

2 接觸電阻

根據(jù)GB/T 5095.2-1997部分標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,對插件進行接觸電阻測定。對插件加載10A電流,結(jié)果見表1。由表可知,OK插針接觸電均低于NG插針。其中NG3/NG4的接觸電阻增加明顯,遠高于NG1/NG2。

 

表1 壓接端子接觸電阻測量結(jié)果

壓接端子接觸電阻測量結(jié)果

 

3 異物分析

 

圖2為銅線表面異物微觀圖與能譜圖,由圖可知,NG1與NG2銅線表面可見異物以及龜裂紋,屬于典型的腐蝕形貌,且發(fā)生局部均勻腐蝕。能譜分析可知,腐蝕產(chǎn)物中含有O/Cl/Ca/Mg等元素,其中腐蝕物中Cl元素含量高達14.6%。其中腐蝕處剝落處裸露銅線基材,可見銅線表面因腐蝕產(chǎn)生的凹坑。

圖中OK1銅線表面存在少量黏附物,能譜分析可知,其含有少量Cl元素。

 

銅線表面異物微觀圖與能譜圖

圖2 銅線表面異物微觀圖與能譜圖

 

對腐蝕產(chǎn)物進行紅外分析,由圖3可知,腐蝕物圖譜與堿式氯化銅Cu2(OH)3Cl的特征峰高度匹配,且堿式氯化銅一般為綠色,與實際顏色一致。

 

腐蝕物FT-IR圖

圖3 腐蝕物FT-IR圖

 

4 表面分析

 

發(fā)現(xiàn)NG1靠近端口的銅線集束位置可見大量碎屑,碎屑為銅線表面剝落,基本呈氧化色等,從NG1剖切后微觀與能譜典型圖,碎屑(碎屑1、碎屑2)以Cu元素為主,且含有O、Cl元素。少量顆粒碎屑(碎屑3)為綠色,與前端腐蝕物成分類似。

銅線束中間觀察出顏色無光澤,微觀見表面大量腐蝕形貌以及腐蝕剝落形貌。能譜分析可知,腐蝕物以O(shè)元素的氧化腐蝕為主,并含有少量Cl元素。

在銅線與壓接端子過渡接觸位置可見一明顯凹坑,凹坑內(nèi)形貌為結(jié)晶顆粒物,能譜分析可知,結(jié)晶顆粒中Zn含量較高,表明端子鍍層已被破壞,基材表面裸露。

 

NG1剖切后微觀與能譜典型圖

圖4 NG1剖切后微觀與能譜典型圖

 

OK1銅線集束位置可見表面顏色光亮,線束微觀未見明顯腐蝕形貌以及腐蝕剝落形貌,表面較干凈。從圖5能譜分析可知,線束表面O元素含量不高,氧化腐蝕程度低,未見明顯Cl元素,表明在線束與鍍鎳層緊密接觸位置較干凈,線束間的鎳層中異物主要為有機物。

 

OK1剖切后微觀與能譜圖

圖5 OK1剖切后微觀與能譜圖

 

5 金相分析

 

圖6為NG2帶線束的壓接端子顯微與能譜圖。由圖可知,在壓接邊角可見銅發(fā)黑,發(fā)生腐蝕。截面可見大量與端子接觸的銅線、內(nèi)部銅線的表面明顯一層狀發(fā)黑腐蝕物,而端子鍍鎳層未見明顯異常。能譜分析可知發(fā)黑腐蝕物與基材銅相比,O元素含量明顯增加,腐蝕物中含有少量Cl元素。

 

NG2壓接端子顯微與能譜圖

圖6 NG2壓接端子顯微與能譜圖

 

6 溫濕模擬

 

將OK5以及Ag3部分放入溫度85℃,濕度85%HR的箱體中放置50h試驗后外觀圖。由圖可知,試驗后銅線表面金屬光澤暗淡,表面存在氧化現(xiàn)象。

由表4可知,溫濕試驗后的端子的接觸電阻均升高。其中Ag4增加顯著,接觸電阻值與上述試驗后的OK4相比較接近。而在相同試驗環(huán)境下,OK5/6接觸電阻增加極為明顯。

 

表2 溫濕試驗后接觸電阻測量結(jié)果

溫濕試驗后接觸電阻測量結(jié)果

 

圖7為OK5/Ag3試驗后線束表面微觀與能譜圖。溫濕試驗后銅線表面局部可見腐蝕層或腐蝕層剝落,Ag端子外線束銅線表面大部分較干凈,僅局部腐蝕或腐蝕剝落,其銅線表面的腐蝕面積、腐蝕物等腐蝕程度要明顯弱于OK5。在OK5表面能譜檢測出少量Cl元素。

 

可見試驗后端子的接觸電阻均升高,接觸電阻的升高主要與銅線的高溫高濕表面氧化、氯化等腐蝕有關(guān)。

 

OK5/Ag3試驗后線束表面微觀與能譜圖

圖7 OK5/Ag3試驗后線束表面微觀與能譜圖

 

結(jié)論與建議

 

結(jié)論:

(1)產(chǎn)品燒損與端子銅線束被腐蝕,導(dǎo)致端子壓接接觸電阻增大有關(guān)。

(2)端子線束表面接觸含有Cl離子的污染,導(dǎo)致端子銅線束發(fā)生腐蝕是表面接觸電阻增大的直接原因。

 

*** 以上內(nèi)容均為原創(chuàng),如需轉(zhuǎn)載,請注明出處 ***

 

簡介

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