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每日一個(gè)知識點(diǎn)!認(rèn)識硫化腐蝕對PCBA的危害及改善建議

2024-10-31  瀏覽量:242

 

每日一個(gè)知識點(diǎn)!認(rèn)識硫化腐蝕對PCBA的危害及改善建議

 

因封裝制程缺陷、外界使用環(huán)境等因素影響,常導(dǎo)致LED出現(xiàn)硫化反應(yīng),表現(xiàn)為產(chǎn)品功能區(qū)黑化,光通量逐漸下降,色溫出現(xiàn)明顯漂移。LED的硫化現(xiàn)象在初期難以察覺發(fā)現(xiàn),在經(jīng)過一段時(shí)間后,重要材料遭到徹底破壞,最終導(dǎo)致產(chǎn)品完全失效。

 

 

本文以PCBA板上的LED硫化腐蝕失效為例,通過開封檢查、顯微分析、切片分析、硫化試驗(yàn)等測試方法,分析其失效原因與機(jī)理,并提出預(yù)防措施。

 

測試分析

 

1 外觀檢查

 

針對PCBA和LED裸燈珠進(jìn)行光學(xué)檢查,檢查結(jié)果顯示:LED裸燈珠封裝膠體清澈透明,固晶銀膠、晶元、綁定線結(jié)構(gòu)清晰;PCBA上的LED燈珠封裝膠體清澈透明,固晶膠、晶元無法有效辨識,呈現(xiàn)黑色。

外觀檢查確認(rèn)光衰LED燈珠內(nèi)部明顯發(fā)生黑化,該變化會導(dǎo)致反光效果下降,燈珠出光效率降低。

 

2 機(jī)械開封+顯微分析

 

為了真實(shí)呈現(xiàn)LED燈珠內(nèi)部的形貌和成分,采用機(jī)械開封的方式將LED燈珠解剖。

從圖中可以看到,光衰LED燈珠內(nèi)部焊盤區(qū)明顯發(fā)黑(紅色虛線標(biāo)注),燈珠白色塑膠覆蓋處的金屬支架表面呈現(xiàn)金屬光澤,未明顯發(fā)黑;LED裸燈珠內(nèi)部焊盤、固晶銀膠、金屬支架均呈現(xiàn)出正常光澤,無黑化現(xiàn)象。

 

光衰LED燈珠機(jī)械開封后光學(xué)照片

圖1. 光衰LED燈珠機(jī)械開封后光學(xué)照片

 

圖2顯示固晶銀膠呈現(xiàn)異常粉末狀,成分測試探測到高含量的硫元素;焊盤區(qū)表面為粗糙的結(jié)晶形貌,非正常電鍍銀形貌,成分測試同樣探測到高含量的硫元素,同時(shí)還有少量鎳元素和銅元素,這意味著銀鍍層底下的鎳、銅元素已經(jīng)擴(kuò)散至表層,說明硫腐蝕程度極為嚴(yán)重;C區(qū)域?yàn)楸话咨z體覆蓋的金屬支架,金屬支架銀層表面光滑,無明顯腐蝕形貌,成分測試未發(fā)現(xiàn)硫元素。

 

光衰LED燈珠機(jī)械開封形貌及EDS譜圖(支架側(cè))

圖2. 光衰LED燈珠機(jī)械開封形貌及EDS譜圖(支架側(cè))

 

圖3是封裝膠體側(cè)的形貌圖,LED燈珠內(nèi)部焊盤區(qū)呈現(xiàn)出典型的腐蝕形貌,同樣探測到高含量的硫元素;E區(qū)域與C區(qū)域相對應(yīng),膠體表面光滑,無銀元素殘留,未探測到腐蝕元素。

 

光衰LED燈珠機(jī)械開封形貌及EDS譜圖(封裝膠體側(cè))

圖3. 光衰LED燈珠機(jī)械開封形貌及EDS譜圖(封裝膠體側(cè))

 

圖4是LED裸燈珠的內(nèi)部形貌,銀鍍層表面光滑,燈珠封裝材料未探測到腐蝕硫元素。

 

LED裸燈珠機(jī)械開封形貌及EDS譜圖

圖4. LED裸燈珠機(jī)械開封形貌及EDS譜圖

 

光衰LED燈珠機(jī)械開封顯微分析結(jié)果表明:固晶銀膠、焊盤區(qū)表面均發(fā)生極為嚴(yán)重的硫化腐蝕,但被白色塑膠覆蓋的金屬支架表面則無腐蝕現(xiàn)象,說明硫元素的進(jìn)入路徑不是金屬支架與白色塑膠的的界面,即燈珠硫化腐蝕與LED支架本身密封性無關(guān)。

 

3 剖面制樣+顯微分析

 

取光衰LED燈珠和LED裸燈珠進(jìn)行剖面切片。光衰LED燈珠固晶膠、焊盤銀層表面發(fā)黑嚴(yán)重,固晶銀膠內(nèi)部無發(fā)黑現(xiàn)象(紅色虛線標(biāo)注);LED裸燈珠固晶膠、焊盤銀層表面呈現(xiàn)銀色金屬光澤。

 

LED燈珠剖面光學(xué)照片

圖5. LED燈珠剖面光學(xué)照片

 

光衰LED燈珠的剖面結(jié)構(gòu)如圖所示,其中①固晶銀膠表面嚴(yán)重硫化,但銀膠內(nèi)部無硫化現(xiàn)象,且固晶膠底部的銀層完整;②金屬支架與白色塑膠結(jié)合良好,界面無分層現(xiàn)象,白素塑膠覆蓋的金屬支架表面銀層無明顯腐蝕;③固晶銀膠邊緣銀層腐蝕殆盡。

 

LED燈珠剖面光學(xué)照片

圖6. 光衰LED燈珠剖面形貌及EDS譜圖

 

4 硫化試驗(yàn)

 

對LED裸燈珠進(jìn)行防硫性能測試,試驗(yàn)后,LED裸燈珠內(nèi)部銀膠和焊盤明顯發(fā)黑,說明封裝膠體無法阻止含硫氣體的進(jìn)入。

 

硫化試驗(yàn)示意圖

圖7. 硫化試驗(yàn)示意圖

 

硫化試驗(yàn)前后比對

圖8. 硫化試驗(yàn)前后比對

 

5 分析

 

光衰LED燈珠光學(xué)檢查確認(rèn)固晶銀膠、焊盤表面明顯發(fā)黑,黑化會導(dǎo)致LED燈珠出光效率降低。

將光衰LED燈珠機(jī)械剝離,固晶銀膠和焊盤表面確認(rèn)發(fā)生硫化腐蝕,呈現(xiàn)出典型的腐蝕形貌。白色覆蓋的金屬支架表面銀層光滑完整,未發(fā)現(xiàn)任何腐蝕跡象。光衰LED燈珠剖面顯微分析再次證實(shí)了以上分析結(jié)果,硫化腐蝕僅發(fā)生在固晶銀膠表面和未被白色塑膠覆蓋的焊盤表面。

硫元素來自于服役環(huán)境,硫元素進(jìn)入LED燈珠有兩條路徑:①通過金屬支架與白色塑膠的界面進(jìn)入,也就是行業(yè)內(nèi)通常所講的LED支架密封性不良;②通過封裝膠體擴(kuò)散進(jìn)入。從本案分析結(jié)果可知,腐蝕硫元素必然是通過封裝膠體進(jìn)入燈珠內(nèi)部。LED燈珠封裝膠體為硅膠,硅膠分子鏈間距較大,防止腐蝕氣體進(jìn)入的性能較差。

硫化試驗(yàn)證實(shí),在含硫氣體條件下,該款LED燈珠極易發(fā)生硫化失效。

 

結(jié)論

 

總結(jié):

導(dǎo)致LED燈珠發(fā)生光衰的直接原因是:LED內(nèi)部發(fā)生嚴(yán)重的硫化腐蝕。含硫腐蝕性氣體來源于外界服役環(huán)境,通過封裝膠體擴(kuò)散進(jìn)入燈珠內(nèi)部,造成固晶銀膠和焊盤表面發(fā)生硫化腐蝕。

 

建議:

1. 查找確認(rèn)含硫腐蝕氣體的發(fā)生源,從根源上杜絕硫化腐蝕的發(fā)生;

2. 更換封裝膠體,選取致密性較高的膠體,例如市面上防硫化膠水。

 

*** 以上內(nèi)容均為原創(chuàng),如需轉(zhuǎn)載,請注明出處 ***

 

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