先進(jìn)材料表征方法
X射線能譜分析(EDS) | 聚焦離子束分析(FIB) | 俄歇電子能譜分析(AES) | X射線光電子能譜分析(XPS) |
動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜分析(D-SIMS) | 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析(TOF-SIMS) |
背景
近年來,隨著電子設(shè)備線路設(shè)計(jì)日趨復(fù)雜,焊料無鉛化的日益嚴(yán)格,促使化學(xué)鎳金工藝的研究和應(yīng)用越來越受到重視并取得了新的發(fā)展。
作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~,PCB已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。但是由于成本以及技術(shù)的原因,PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用過程中出現(xiàn)了大量的失效問題。
對(duì)于這種失效問題,我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù),來使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證。
在PCB的分析上,能譜儀可用于表面的成分分析,可焊性不良的焊盤與引線腳表面污染物的元素分析。能譜儀的定量分析的準(zhǔn)確度有限,低于0.1%的含量一般不易檢出。能譜與SEM結(jié)合使用可以同時(shí)獲得表面形貌與成分的信息,這是它們應(yīng)用廣泛的原因所在。
應(yīng)用范圍:
PCB、PCBA、FPC等。
測(cè)試步驟:
將樣品進(jìn)行表面鍍鉑金后,放入掃描電子顯微鏡樣品室中,使用15 kV的加速電壓對(duì)測(cè)試位置進(jìn)行放大觀察,并用X射線能譜分析儀對(duì)樣品進(jìn)行元素定性半定量分析。
樣品要求:
非磁性或弱磁性,不易潮解且無揮發(fā)性的固態(tài)樣品,小于8CM*8CM*2CM。
參考標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 17359-2012微束分析 能譜法定量分析
典型圖片:
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焊接面面掃描結(jié)果 |
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