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CT掃描

 

缺陷分析 尺寸測(cè)量 逆向工程 CAD數(shù)模對(duì)比

 

CT掃描

 

簡(jiǎn)介:

三維X射線掃描(CT)采用計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù),在對(duì)被檢測(cè)物體無(wú)損傷的條件下,以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式,清晰、準(zhǔn)確、直觀地展示被檢測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、組成、材質(zhì)及缺損狀況。

 

目的:

確定產(chǎn)品內(nèi)部可能存在的缺陷的類(lèi)型、位置以及尺寸。

 

應(yīng)用范圍:

塑料、陶瓷等復(fù)合材料,以及鎂、鋁和鋼原料制成的零件、粘結(jié)劑等。

 

測(cè)試步驟:

確認(rèn)樣品類(lèi)型/材料→放置測(cè)量裝置中→快速掃描→圖像整體透視、任意面剖視→缺陷分析。

 

典型圖片:

缺陷分析

 

缺陷分析

 

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